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        • LEICADCM8徠卡顯微鏡具有Z佳的精確度和可重復性您所查看的產品表面是否具有比較陡峭的坡度還是具有復雜的形貌?使用高清共聚焦顯微鏡能夠實現2納米的垂直分辨率。您所查看的平面是否非常平整但具有非常微小的尖峰和凹坑?可從以下三種干涉測量模式中選擇:垂直掃描干涉測量(VSI);相移干涉測量(PSI)或者適用于分辨率高達0.1納米的擴展相移干涉測量(ePSI)。
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